社団法人 物理探査学会
第135回(平成28年度秋季)学術講演会


IP効果を考慮したTEM法の1Dモデリング

講演要旨(和文)
TEM法は電磁場の過渡応答を利用する電磁探査法の一種であり、地下の比抵抗構造を推定する探査手法である。地下に低比抵抗層がある場合のTEM法による探査において、E/Iが負の値を示す現象が起こる。これはIP効果の影響によるもので、IP効果はTEM法の深さと正確性に影響を与える。本研究では新たにm(充電率)、τ(時定数)、c(周波数依存係数)、ρ(複素比抵抗)の4つのパラメータを導入した。これらの値の関係性はCole-Coleモデルの式で与えられる。この式を従来TEMのシュミレーションプログラムに組み込むことによってIP効果を考慮した様々なモデリングを行った。

講演要旨(英文)
Transient Electromagnetic (TEM) is an electromagnetic-geophysical method in which electric and magnetic fields are induced by transient pulses of electric current and the subsequent decay response measured to understand the electrical subsurface structures. The purpose of this study is to present the developed inversion program for TEM data with IP (induced polarization) effect. In this paper various simulation cases for different models are performed. The results of (E/I) ratio show negative values in late-time (10-2s to 10s) when TEM method is applied for low resistivity materials. This phenomenon is caused by IP effect, which influences the accuracy and investigation depth of TEM data. In the calculation process, m(chargeability), t(time constant), c(exponent) and p(complex resistivity) were included. These four parameters are essential in measuring TEM data with IP effect.